Indústria Linha Branca e Eletroeletrônicos

Gestão da Qualidade de Manufatura

Reduzir problemas de qualidade na inspeção final e as paradas de produção por problemas de qualidade, eliminar o custo das rejeições e apoiar a identificação da causa raiz dos problemas, temas estes que são tratados pela Suíte de Gestão da Qualidade de Manufatura, que gerencia a Qualidade dos itens produzidos internamente, bem como os problemas causados nos produtos manufaturados pela utilização dos itens adquiridos de fornecedores. Também estão cobertas as auditorias internas bem como o tratamento das não-conformidades e projetos de melhoria (Kaizen).

 

A Suíte de Gestão da Qualidade de Manufatura da SIQ Systems é composta pelos seguintes módulos:

 

Inspeção na Manufatura e Final

Controlar os produtos na manufatura e inspeção final, através de tabelas de amostragem (parametrizáveis), skip lot, planos de controle, gerando automaticamente os Indicadores de Desempenho (PPM) e notificações de não conformidade internamente.

 

CEP

O Controle estatístico do processo (CEP) é uma ferramenta que aplica métodos estatísticos para ações de prevenção de não conformidades, melhoria da qualidade de produtos e processos e redução de custos e desperdícios. O CEP estabelece rastreamento fácil de informações estatísticas, detecção de causas de instabilidades nos processos, tomada de ações corretivas e preventivas e relatórios.

 

Avaliações / Auditorias

Aplicar e gerenciar auditorias internas durante o processo produtivo e Inspeção final.
Controle dos resultados e próximas auditorias. Follow-up das ações. Exemplo de auditorias: Processo produtivo / Sistema da Qualidade.

 

Não Conformidades

Criar, gerir e disponibilizar necessidades de Ações quando houver não conformidades, proporcionando a análise de causa-raiz e a resolução de problemas através de ferramentas como 8D, 5PB´s, entre outros. Pode também ser usado como repositório para ações de Melhoria Contínua, permitindo a criação e monitoramento de Planos de Ação e seus resultados (PDCA, DMAIC, etc).